參與起草國家標準：
GB/T 14318-2019《中子周圍劑量當量(率)儀》
T/WSJD 53—2024《氡測量CR-39徑跡蝕刻法》
TWSJD 7-2020 《核輻射突發事件放射性污染人員洗消流程及技術要求》
通道式放射性檢測系統
環境及區域放射性監測系統
便攜式放射性檢測儀表
實驗室設備
電離輻射標準裝置
核應急與安全監測裝置
放射衛生專用設備
輻射防護設備
產品分類
Product Classification
行業解決方案
Industry Solutions
熱釋光劑量儀 (RJ54)
產品型號：RJ54
生產廠商：上海仁機儀器儀表有限公司
發貨倉庫：上海倉/成都倉
貨 期： 現貨
產品簡介：熱釋光探測器退火爐是對熱釋光探測器進行熱處理的專用設備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量，恢復探測器的初始靈敏度和發光曲線的形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量。
生產廠商：上海仁機儀器儀表有限公司
發貨倉庫：上海倉/成都倉
貨 期： 現貨
產品簡介：熱釋光探測器退火爐是對熱釋光探測器進行熱處理的專用設備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量，恢復探測器的初始靈敏度和發光曲線的形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量。
相關資質證書：
熱釋光探測器退火爐是對熱釋光探測器進行熱處理的專用設備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量，恢復探測器的初始靈敏度和發光曲線的形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量。
特點
-自動校準、中文菜單、數據庫編譯/檢索、發光曲線顯示/存儲、數據打印、條碼掃描、模塊結構、性能穩定可靠、維修簡便
-采用升降電加熱系統，采用移動式加熱盤，測量后可直接將加熱盤取下來，不需收樣器
-半導體致冷：可根據需要改變光電倍增管的工作溫度，30min可制冷到5℃，降低光測量系統的熱噪聲信號，提高測量精度
-電容式觸摸按鍵：上、下、左、右、確認
-讀出器整機采用模塊結構，具有整體性好、外形美觀、性能可靠、簡便等特點
-讀出器能夠雙抽屜結構，側抽屜用于光測量系統的清洗，可在線清洗（不需關機）
-自動篩選：用于對探測器的篩選瀏覽，從待測探測器中隨意抽取一組探測器，測后求出其平均值
-將平均值和所需分散性質（離散程度），輸入到出器中，即可根據讀出器面板給出的分檔號進行篩選測量，具有采用多臺讀出器對同一批探測器篩選的功能
-雙抽屜結構：從食品中提取的硅酸鹽礦物質為顆粒狀，測量時樣品中的雜質會對光測量系統造成污染，可在線清潔光測量系統
-抽屜在外清洗、烘干加熱盤
-抽屜在外清洗加熱盤并在外程序烘干
產品執行/適用標準（僅展示部分標準）
技術指標
| 產品名稱 | 熱釋光劑量儀 (RJ54) | 生產廠商 | 上海仁機儀器儀表有限公司 |
|---|---|---|---|
| 測量系統穩定性 | ≤0.1% | 加熱參數設置 | 儲存十組加熱參數，可根據需要改變參數設置 |
| 劑量線性測量范圍 | 10-2Gy~10Gy | 測量系統穩定性 | ≤0.1% |
| 靈敏度重復性的變化系數 | ≤0.1%±0.05%/℃ | 加熱時間重復性 | ≤0.1% |
| 加熱溫度范圍 | 0~500℃ 加熱速率：1~40℃/s | 加熱溫度重復性 | ≤1% 加熱溫度偏差：≤±1℃ |
| 半導體致冷 | 5℃（＜30min），可根據需要設置制冷溫度 | 外形尺寸（W*D*H） | 280mm*440mm*420mm |
| 重量 | ≤20kg | 儲存溫度 | -10~50℃ |
| 工作溫度 | 0~40℃ | 相對濕度 | ≤90% |
| 電源 | 220V±10%，50Hz |
特別提示：該產品可按客戶要求進行定制，網站數據僅供參考，如遇變更或調整恕不另行通知，以實際產品為準。
檢測報告
熱釋光劑量儀 (RJ54)計量檢測報告
熱釋光劑量儀 (RJ54)ISO認證
熱釋光劑量儀 (RJ54)CE認證
應用行業
-
核工業、海關、口岸核電站、核工業、國門口岸等用于個人劑量監測
-
工業用途石油、化工、探傷檢測用于相關劑量監測
-
醫療用途X光室,質子治療儀,CT,CR,DR等放射性醫療設備
客戶案例
